テストシステム用の64Gbit/sの高速MEMSスイッチ...

MM5620 スイッチは、高速差動データ アプリケーションに最高のパフォーマンスとデータ レートを提供します。 携帯電話、グラフィックス、ネットワーク プロセッサ、マイクロプロセッサ、高速メモリ製品などのスペースに制約のある最終テストとプローブ テストにおいて、前例のないレベルの並列テストを提供します。

システムインパッケージ (SiP) ソリューションには、スイッチ ドライバーとチャージ ポンプ、およびループバック コンデンサが完全に統合されています。 DC ～ 20 GHz で動作し、8.2 mm x 8.2 mm x 1.6 mm LGA パッケージの実装面積を持つ大量生産テスト システムの基板実装面積を大幅に削減し、従来の電磁リレー (EMR) ソリューションと比較してサイズを 90% 削減します。 。 この大幅な体積削減により、より多くのテスト サイトが可能になり、上部および/または下部の配線が容易になります。

このデバイスは、Menlo Micro が現在生産中の 32 Gbit/s MM5600 双極双投 (DPDT) スイッチをベースにしています。

「今年初めに MM5620 を導入したことで、Menlo Micro は業界をリードする高速データ半導体の設計者や製造業者を多数サポートできるようになりました。」と Menlo Micro の共同創設者兼マーケティング担当上級副社長 Chris Giovanniello 氏は述べています。 「これまでのところ、お客様からの製品フィードバックは、PCIe 6 アプリケーション向けの優れたデータ レートと PAM-4 シグナル インテグリティを示していると同時に、集積回路のテスト カバレッジとスループットを大幅に向上させる倍密度 HSIO ループバック テスト モードの多用途性を提供しています。」

統合されたループバックは、統合されたデカップリング コンデンサを含む完全なエンドツーエンドの TX から RX への差動ループバック ソリューションを提供すると同時に、ユーザー テスト機器への複数の高速接続も提供します。

動作時間 30 μs 未満、リリース時間 10 μs 未満のスイッチング速度は EMR よりも 1000 倍速いため、テスト時間とテストコストの削減が可能になります。また、MEMS 構造は 30 億を超えるスイッチング サイクルをサポートするため、ダウンタイムとメンテナンスが削減されます。従来の EMR と比較して、コストと 1000 倍長い寿命を実現します。

MM5620 は 9 mW 未満で動作し、EMR や他のリレーと比較して消費電力が大幅に削減され、市場で入手可能な最高効率の高速 DP3T スイッチング ソリューションとなっています。

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